表面波探头用于探测工件（)缺陷。

A.主要取决于仪器发射的脉冲持续时间

B.与被探工件的底面粗糙度无关

C.主要取决于被检零件的厚度

D.用直径较大的探头可以得到改善

A.用纵波垂直于界面发射到工件中去

B.用两个不同振动频率的晶片

C.沿Y轴切割石晶英晶体

D.适当地倾斜探头

A.对比试块与被检件或材料化学成份相似

B.试块的外形尺寸能代表被检工件的特征

C.对比试块的厚度与被检工件厚度相对应，涉及到不同工件厚度对接接头检测，试块厚度选择应由其较大工件厚度确定

D.对比试块用于仪器探头性能校准和检测校准

A.用于复合板复合面结合状态的检测

B.在复合板中部区域，探头延垂直于基材压延方向，间距不大于100mm的平行线扫查

C.单个缺陷指示长度小于25mm可不作记录

D.未结合区定义是：B1<5%示波屏满刻度，且F1≥5%